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  1. Técnicas analíticas como la microscopía electrónica de barrido SEM-EDX han sido ampliamente utilizadas para la caracterización, diagnóstico y conservación, pues permiten tanto el estudio morfológico de su superficie como conocer la composición elemental de estas piezas tan singulares.

  2. Para el proceso de caracterización se utilizó la combinación de varias técnicas analíticas como: Microscopia Óptica de Polarización (MOP), Microscopía Electrónica de Barrido (MEB) con espectrómetro de dispersión de energía (EDS) y Difracción de rayos X (DRX).

  3. convencionales. Este estudio se centra en el entendimiento de las bases químicas de refractoriedad de un sulfuro polimetálico complejo que contiene plata proveniente de los Andes Centrales del Perú durante la extracción sólido-líquido (lixiviación), pues es necesario diseñar nuevos procesos químicos capaces de facilitar la lixiviación y

  4. estudio contiene contenidos altos de Plata, Plomo y Zinc; en el caso del Cobre se encuentra en forma regular. El Work Index comparativo con respecto al cuarzo obtenido para la muestra del mineral sulfurado es de 10,24 Kw-hr/Tn, conteniendo un valor bajo de lo normal.

  5. Este estudio se centra en el entendimiento de las bases químicas de refractoriedad de un sulfuro polimetálico complejo que contiene plata proveniente de los Andes Centrales del Perú durante la extracción sólido-líquido (lixiviación), pues es necesario diseñar nuevos procesos químicos capaces de facilitar la lixiviación y entender los ...

  6. mediante técnicas electroquímicas detectar las fases lixiviables y refractarias de plata en los concentrados minerales, así como la influencia del sulfuro de hierro contenido éstos. Por otro lado, fue posible describir la lixiviación de sulfuro de plata a partir de los concentrados

  7. Los resultados mostraron la formación de sulfuro de plata alrededor de la capa de NP's que rodean células macrófagos murina (línea celular J774), dichas partículas fueron detectadas utilizando mapeo elemental de rayos X, así como EDX.